缺陷

• 黄仁勋称Blackwell芯片曾存在设计缺陷：靠台积电力挽狂澜！

  电子竞技

  10月23日讯 英伟达 CEO 黄仁勋于当地时间周三在访问丹麦时表示：该公司最新的 Blackwell 芯片曾存在设计缺陷，“Blackwell 芯片可以正常使用，但良率很低。”他还表示，这一缺陷“100% 是英伟达的错”，后来全靠台积电的协助才得以从这一挫折...

  admin 2024-10-24 22人已围观

  阅读更多